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SN74BCT8240ANT spec: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
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SN74BCT8240ANT spec: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL INVERTING BUFFERS
Fabricant : TI
Emballage : NT
Pins : 24
Température : Min 0 °C | Max 70 °C
Taille : 322 KB
Application : IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL INVERTING BUFFERS